Record Details

Влияние микроволнового облучения на сопротивление омических контактах Au-TiBx-Ge-Au-n+-n+-n++-GaAs(InP)

Zhytomyr State University Library

View Archive Info
 
 
Field Value
 
Relation http://eprints.zu.edu.ua/10522/
http://journals.ioffe.ru/ftp/
 
Title Влияние микроволнового облучения на сопротивление омических контактах Au-TiBx-Ge-Au-n+-n+-n++-GaAs(InP)
 
Creator Беляев, А. Е.
Саченко, А. В.
Болтовец, Н. С.
Иванов, В. Н.
Конакова, Р. В.
Кудрик, Я. Я.
Матвеева, Л. А.
Миленин, В. В.
Новицкий, С. В.
Шеремет, В. Н.
 
Subject QC Physics
TK Electrical engineering. Electronics Nuclear engineering
 
Description Экспериментально и теоретически исследованы температурные зависимости удельного контактного со-
противления ρc омических контактов Au–TiBx−Ge−Au−n−n
+−n
++(GaAs)-InP до и после кратковременной
(10 с) микроволновой обработки. Показано, что после микроволновой обработки ρc может уменьшаться во
всем температурном интервале измерений 100−400 K. Получено хорошее согласие экспериментальных и
теоретических зависимостей ρc(T), объяснение дано в предположении изменения плотности дислокаций в
приконтактной области полупроводника, стимулированного микроволновым излучением.
 
Publisher Физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе РАН
 
Date 2012
 
Type Article
PeerReviewed
 
Format text
 
Language uk
russian
 
Identifier http://eprints.zu.edu.ua/10522/1/%D0%A4%D0%A2%D0%9F%202012%20T46%20%D0%924%20p558-561.pdf
Беляев, А. Е. and Саченко, А. В. and Болтовец, Н. С. and Иванов, В. Н. and Конакова, Р. В. and Кудрик, Я. Я. and Матвеева, Л. А. and Миленин, В. В. and Новицкий, С. В. and Шеремет, В. Н. (2012) Влияние микроволнового облучения на сопротивление омических контактах Au-TiBx-Ge-Au-n+-n+-n++-GaAs(InP). Физика и техника полупроводников, 46 (4). pp. 558-561. ISSN 0015-3222